MicroCT的空間分辨率測(cè)試解決方案
多年來，已經(jīng)提出了許多評(píng)估m(xù)icroCT系統(tǒng)性能的方法。通常，高分辨率的限制因素是焦點(diǎn)尺寸。這就是為什么許多測(cè)試僅依賴于從2D投影圖像確定光斑大小的原因。但是，3D中的真實(shí)空間分辨率取決于更多因素，而不僅僅是系統(tǒng)的機(jī)械精度。與持續(xù)時(shí)間相對(duì)較短的2D測(cè)試相比，所需的時(shí)間穩(wěn)定性要求更為嚴(yán)格。最后，處理和重建算法對(duì)3D可獲得的空間分辨率也有重大影響。
MicroCT的3D空間分辨率測(cè)試用——Micro-CT Bar Pattern NANO Phantom
評(píng)估3D空間分辨率的一個(gè)很好的工具是可用德國(guó)QRM GmbH獲得的Micro-CT Bar Pattern NANO Phantom 。體模包含兩個(gè)放置在正交位置的硅芯片，包圍了1至10μm的多個(gè)分辨率測(cè)試圖案。在"使用QRM公司的MN099_3D空間分辨率 "中，模體的使用以SkyScan 1272臺(tái)式高分辨率微CT為例。
可選地，ASTM E 1695-95包含基于均勻圓柱狀測(cè)試對(duì)象（例如鋁銷）的掃描的測(cè)試方法。3D空間分辨率通過調(diào)制傳遞函數(shù)進(jìn)行量化。另外，給出了確定對(duì)比靈敏度的指令。
來自QRM GmbH的Bar Pattern NANO Phantom掃描的重建切片，使用SkyScan 1276高分辨率體內(nèi)微型CT進(jìn)行了掃描，圖像像素尺寸為2.8μm。
MicroCT 2D空間分辨率——JIMA RT RC-04分辨率測(cè)試卡
通過測(cè)試對(duì)象（例如由W合金或Pt制成的球或交叉線）對(duì)傳輸曲線的仔細(xì)評(píng)估，可以確定邊緣的不清晰度。由此可以根據(jù)EN 12543-5：1999中所述計(jì)算光斑尺寸，或者對(duì)于5μm至300μm的光斑尺寸，也可以按照ASTM E 2903-13進(jìn)行計(jì)算。對(duì)于更高分辨率的系統(tǒng)，可以通過分析從線條或星形圖案確定的調(diào)制傳遞函數(shù)MTF來計(jì)算焦點(diǎn)尺寸。所述JIMA分辨率測(cè)試卡RT RC-04和RT RC-02B包含線圖案范圍為0.1 - 10微米，0.4 - 15微米分別。
詳細(xì)參數(shù)見具體產(chǎn)品詳情頁(yè)：
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德國(guó)QRM是一家質(zhì)控模體生產(chǎn)廠家，主要重點(diǎn)是診斷X射線，CT和微CT成像領(lǐng)域。能夠提供模體來分析圖像質(zhì)量（IQ），校準(zhǔn)HU級(jí)別以及劑量學(xué)問題。
JIMA（日本檢測(cè)儀器制造商協(xié)會(huì)），致力于關(guān)注各種檢測(cè)儀器，其中包括無損檢測(cè)儀器，JIMA分辨率測(cè)試卡，用于測(cè)量X射線系統(tǒng)的分辨率，以保證X射線系統(tǒng)在微米和納米焦點(diǎn)的圖像質(zhì)量。