WEK-MRIP一款用于磁共振設(shè)備綜合性能評(píng)估和日常質(zhì)量檢查的檢測(cè)模體。通過高分子材料樹脂、特氟龍、丙烯、聚乙烯及空氣的嚴(yán)密排列組合，使通過磁共振設(shè)備時(shí)，產(chǎn)生的共振強(qiáng)度、偏差、衰減、及噪聲變化,并在軸狀面，冠狀面，矢狀面生成圖像,用于校驗(yàn)檢測(cè)磁共振設(shè)備。
WEK-MRIP模體的圓柱外殼由丙烯酸材質(zhì)構(gòu)成，外徑為 20cm, 內(nèi)徑為19cm，頂端圓板可拆卸。內(nèi)部鑲嵌邊長(zhǎng)為 10cm 的測(cè)試立方體。測(cè)試立方體由 6mm 厚的聚碳酸酯塑料制成。立方體內(nèi)包含切片厚度斜面、感光測(cè)定小瓶、 高分辨率測(cè)試板和低對(duì)比度測(cè)試圓盤。

模體構(gòu)成組件

切片厚度斜面：

切片厚度斜面安裝在測(cè)試立方體的外部。斜面厚2mm，寬10mm。其放置位置相對(duì)于模體坐標(biāo)軸，呈14°角，對(duì)切片寬度的測(cè)量提供4 倍的放大系數(shù)。兩兩相對(duì)的斜面相交于測(cè)試立方板的中心位置，用于定位校準(zhǔn)。

空間分辨率測(cè)試卡：

空間分辨率測(cè)試卡一共有三組，可對(duì)冠狀面，軸狀面，矢狀面三個(gè)面分別進(jìn)行分辨率測(cè)試。 每組都是由2mm厚的丙烯酸板構(gòu)成，由測(cè)試立方體內(nèi)的通道支撐。通過使用一系列矩形槽來完成的，測(cè)試范圍為 2、2.5、2.7、3、4、5、6、7、8、9、10、11 其中一組測(cè)試卡上有2cm、4cm和8cm 正方形間隔的3mm孔，用于測(cè)試幾何畸變

感光測(cè)定瓶：

光測(cè)定樣品儲(chǔ)存在四個(gè)外徑為 1.9cm，內(nèi)徑為1.6cm 的圓柱形小瓶中。小瓶可以通過立方體外部0.6cm的端口裝滿各種溶液，用于T1和T2 測(cè)量。

立方體支撐盤：

兩塊立方體支撐盤將立方體固定在圓柱體內(nèi)，可以方便地安裝和拆卸，在確定立方體位置的同時(shí)，支撐盤還為空間線性測(cè)量提供信息。測(cè)試立方體支撐盤上有3 毫米的孔，以8厘米、10厘米和12 厘米的正方形為中心，以模體的軸為中心，在較大的正方形的拐角處有4 組2 厘米的正方形。這種設(shè)計(jì)允許測(cè)量整體幾何畸變和局部畸變。

低對(duì)比度：

低對(duì)比度測(cè)試模塊是由安裝在測(cè)試立方體底座上的丙烯酸圓盤構(gòu)成。四組三個(gè)圓形凹槽的深度分別為0.5mm，0.75mm，1.0mm 和2.0mm，直徑分別為4mm，6mm 和10mm。（由軸中心到外）

外殼：

外殼組件包括外殼和立方體支撐盤（用于支撐10cm的立方體測(cè)試模塊）。外殼頂端圓板可拆卸，圓盤上加有測(cè)試偽影測(cè)試模塊。在移除測(cè)試立方體和支撐盤的情況下，可以使用外殼進(jìn)行全面的空間均勻性測(cè)量。外殼易于清潔，允許使用凝膠和液體溶液，多個(gè)端口允許在排水時(shí)不受限制地流動(dòng)。

WEK-MRIP MRI質(zhì)控模體,WEK-MRIP磁共振質(zhì)控模體成像圖：